номер части :
SN74LVTH18646APMG4
производитель :
Texas Instruments
Описание :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Состояние детали :
Active
Тип логики :
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Напряжение питания :
2.7V ~ 3.6V
Рабочая Температура :
-40°C ~ 85°C
Тип монтажа :
Surface Mount
Комплект поставки устройства :
64-LQFP (10x10)