номер части :
SN74ABT8245DWR
производитель :
Texas Instruments
Описание :
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Состояние детали :
Active
Тип логики :
Scan Test Device with Bus Transceivers
Напряжение питания :
4.5V ~ 5.5V
Рабочая Температура :
-40°C ~ 85°C
Тип монтажа :
Surface Mount
Пакет / Дело :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Комплект поставки устройства :
24-SOIC