номер части :
SN74BCT8244ANT
производитель :
Texas Instruments
Описание :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Состояние детали :
Obsolete
Тип логики :
Scan Test Device with Buffers
Напряжение питания :
4.5V ~ 5.5V
Рабочая Температура :
0°C ~ 70°C
Тип монтажа :
Through Hole
Пакет / Дело :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Комплект поставки устройства :
24-PDIP