номер части :
SN74BCT8374ADWR
производитель :
Texas Instruments
Описание :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Состояние детали :
Obsolete
Тип логики :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Напряжение питания :
4.5V ~ 5.5V
Рабочая Температура :
0°C ~ 70°C
Тип монтажа :
Surface Mount
Пакет / Дело :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Комплект поставки устройства :
24-SOIC