номер части :
SN74LVTH182512DGGR
производитель :
Texas Instruments
Описание :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Состояние детали :
Active
Тип логики :
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Напряжение питания :
2.7V ~ 3.6V
Рабочая Температура :
-40°C ~ 85°C
Тип монтажа :
Surface Mount
Пакет / Дело :
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Комплект поставки устройства :
64-TSSOP